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測量結果準確性好 |
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測量原理為全程Mie Scattering理論，結合本公司獨特的反演算法，加之精密的機械、光學系統(tǒng)設計、先進的電子元器件，在理論和性能上保證了測量結果的準確性。 |
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測量范圍寬 |
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前向散射光接收采用本公司專利技術交叉扇形大尺寸主光電探測陣列（70個通道）、高靈敏度雙側向光電探測陣列（每側4個通道），使單透鏡測量范圍達0.1～600μm，可測量D50從300～400nm直至400～500μm的眾多樣品，以滿足大多數(shù)用戶對粒度測量范圍的需要。 |
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測量重復性好 |
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儀器設計采用高靈敏度光電探測陣列，低噪聲信號放大器，高位模擬數(shù)字轉換器，保證電路部分噪聲降至最低。使用進口半導體激光器（壽命長達25000小時）及本公司自行研制的激光準直系統(tǒng)，激光光斑能量分布均勻，形狀規(guī)則。進樣系統(tǒng)具有轉速調節(jié)裝置，保證樣品在測量窗口中分布均勻。以上種種措施確保儀器測量結果具有良好的重復性。 |
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測試速度快 |
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高速采樣系統(tǒng)，采樣速度達到4500次/秒；全隔離USB2.0通訊接口，提高了通訊速度；采用微量進樣系統(tǒng)，樣品制備過程簡單，清洗速度快。一般在20秒之內，就可以完成一次測試過程。 |
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測量軟件功能完備 |
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儀器采用電腦進行實時控制，自動完成數(shù)據(jù)采集、分析處理、結果保存和打印等功能,操作簡單,自動化程度高。測量軟件具有SOP功能，數(shù)據(jù)庫功能以及多種數(shù)學模型，功能完備，操作簡單，易學易用。 |
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